FISCHERSCOPE? X-RAY 5000系統可以連續測量大面積基板（例如在光伏中）上薄鍍層的厚度。該系列的設備由模塊化單元組成，易于在生產線上安裝。X-RAY5000可以在正常空氣或真空中運行。此外，該設備的設計易于維護：測量頭可以在不釋放真空的情況下進行維修。

如果產品在制造過程中移動或凸出，可能會使測量結果發生偏差。 為此Fischer的WinFTM軟件內置了距離補償功能，該功能可以補償高達1厘米的波動的影響，而無需額外的距離傳感器。

• 與生產控制系統相連的運行過程中的連續測量

• 靈活的用途：用于真空或空氣中的測量； 適用于高達400°C的樣品溫度

• 可選配水冷

• 特別穩健的設計和結構，可在苛刻的條件下持續精確的測量

• 非常適合于大表面產品的鍍層厚度測量和材料分析

• X射線源，探測器和基本濾片都可由客戶選擇

• 符合DIN ISO 3497和ASTM的系統 B 568標準

• 太陽能行業中CIGS，CIS，CdTe和CdS層的厚度

• 金屬條，金屬箔和塑料膜上的幾微米厚的薄鍍層

• 光伏中CIGS，CIS，CdTe和CdS層的組成

• 連續生產中的鍍層厚度控制

• 濺射和電鍍廠的過程監控

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